高分辨透射电子显微镜（UHRTEM）

厂家型号：日本电子，JEM-2100F

性能指标：

1、加速电压：200 kv

2、分辨率：点分辨率≤0.19 nm，线分辨率≤0.102 nm

3、放大倍数：150万倍

应用范围：

透射电子显微镜主要用来研究各种材料的内部显微结构，可以从微米直到原子尺度对材料的形貌、界面及晶体缺陷等进行直接观察。UHRTEM主要用来观察和研究金属及其合金的内部结构和晶体缺陷，成像及电子衍射的研究，把形貌信息与结构信息联系起来，分析粒径、相组成、生长取向等。目前透射电镜广泛应用于材料、物理、生物、化学、光电子及纳米技术等领域。

我们分析测试中心的 JEM-2100F 透射电子显微镜配有Olympus公司的CCD相机和Oxford公司的能谱仪，可以对材料样品进行形貌、结构和成分的分析并直接拍照。具体应用范围如下：

介孔材料分析

金属（晶体、非晶）材料分析

高分子材料断面观察

污水处理焚烧残渣分析

纳米碳管、纳米粉体、纳米涂层材料研究

燃料电池催化剂研究

联系人：叶娜

电话：0575-88348786 

Email：yena@usx.edu.cn