扫描电子显微镜带能谱（SEM-EDS）

发布者: 网站管理员发布时间: 2017-05-02

厂家型号：日本电子(JEOL)，JSM-6360LV

英国牛津（OXFORD）X-act

主要技术指标：

1、加速电压：1～30 kv；

2、分辨率：3.0 nm；

3、放大倍数：20倍～30万倍；

4、分析元素B～U；

5、可进行点扫描、线扫描、面扫描。

应用范围：

1、固体材料表面形貌，如：珍珠、珍珠粉的真伪鉴别；纺织、印染纤维的横纵切面观察；燃料电池催化剂等。

2、固体材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜使用，如：高分子、陶瓷、混凝土、纤维等无机或有机固体材料分析；金属材料相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。

联系人：王林霞

电话：0575-88348664